تلعب تقنيات التصوير الكيميائي دورًا مهمًا في تطوير مجال الكيمياء غير العضوية من خلال توفير رؤى قيمة حول التوزيع المكاني والتركيب الكيميائي للمواد. تجمع هذه التقنيات بين قوة الفحص المجهري والتحليل الطيفي لتصور وتحليل التركيب الجزيئي والعنصري للعينات غير العضوية.
تقنيات التصوير الكيميائي
- إحدى التقنيات المستخدمة على نطاق واسع هي المسح المجهري الإلكتروني باستخدام التحليل الطيفي للأشعة السينية المشتتة للطاقة (SEM-EDS). تنتج SEM صورًا عالية الدقة عن طريق مسح حزمة إلكترونية مركزة عبر سطح العينة. يكتشف EDS الأشعة السينية المميزة المنبعثة عند قصف العينة بالإلكترونات، مما يسمح بتحديد العناصر ورسم الخرائط. تمكن هذه التقنية الباحثين من دراسة التشكل والتكوين الأولي وتوزيع المواد غير العضوية بدقة مكانية استثنائية.
- تقنية أخرى ذات قيمة هي الفحص المجهري رامان. يقيس مطياف رامان التشتت غير المرن للضوء، ويوفر معلومات حول الاهتزازات الجزيئية والخصائص الهيكلية للمواد. من خلال الجمع بين التحليل الطيفي لرامان والفحص المجهري، يمكن للباحثين الحصول على صور كيميائية تكشف عن التوزيع المكاني للأنواع الجزيئية المختلفة داخل العينة. يعتبر الفحص المجهري Raman مفيدًا بشكل خاص لدراسة الهياكل البلورية وتحديد الأطوار المعدنية ، والتحقيق في التفاعلات الكيميائية في المواد غير العضوية.
- بالإضافة إلى ذلك يتم استخدام مجهر فورييه لتحويل الأشعة تحت الحمراء (FTIR) على نطاق واسع في الكيمياء غير العضوية. يقيس التحليل الطيفي FTIR امتصاص ونقل ضوء الأشعة تحت الحمراء ، مما يوفر معلومات حول المجموعات الوظيفية والاهتزازات الجزيئية.
- عند دمجها مع الفحص المجهري ، يمكن أن ينتج عن تقنية FTIR صورًا كيميائية بناءً على نطاقات امتصاص الأشعة تحت الحمراء المحددة لمركبات مختلفة. هذه التقنية ذات قيمة في توصيف ورسم خرائط توزيع الأنواع العضوية وغير العضوية في المواد المختلفة.
- يعد التحليل الطيفي الضوئي للأشعة السينية (XPS) تقنية قوية لتحليل السطح في الكيمياء غير العضوية. يقيس XPS طاقة الإلكترونات المنبعثة من سطح العينة بعد التعرض لإشعاع الأشعة السينية. يوفر معلومات حول التركيب الأولي والحالة الكيميائية للسطح. من خلال استخدام التصوير XPS الذي تم حله مكانيًا ، يمكن للباحثين التحقيق في توزيع العناصر والحالات الكيميائية المختلفة على سطح المواد غير العضوية.
